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   源码介绍

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这个实例是一个用于模拟多层薄膜光学特性的程序，主要通过计算反射率和各层厚度来研究薄膜材料的光学行为。

代码简介

1. 初始化与参数设置 ：

   • 使用clc,clear,close all清除工作区、命令窗口和图形窗口，确保运行环境干净。
   • 加载两种材料（二氧化硅SiO2和氮化硅Si3N4）的光学常数数据。
   • 设置迭代次数为50000次，每次迭代会随机生成一组薄膜结构并计算其反射率。
   • 初始化存储结果的数组data，其中第一列存储反射率数据，第二列存储每层厚度。

2. 薄膜结构生成 ：

   • 薄膜由 10 层交替材料组成（偶数层为SiO2，奇数层为Si3N4）。
   • 每层厚度随机生成，范围为 1 至 150 纳米（单位转换为米）。

3. 传输矩阵法计算光学特性 ：

   • 使用传输矩阵法（Transfer Matrix Method, TMM）计算多层薄膜的光学特性。
   • 每层薄膜的传输矩阵通过函数transmission_TEmatrix计算，该函数基于材料的折射率、厚度、入射角和波长。
   • 对所有波长逐一计算总传输矩阵，并通过边界条件推导出反射率和透射率。

4. 反射率与透射率计算 ：

   • 反射率R和透射率T_TE是在每个波长下通过传输矩阵公式计算得出。
   • 反射率R表示光从薄膜表面反射的比例，透射率T_TE表示光穿透薄膜的比例。

5. 结果存储 ：

   • 每次迭代的结果（反射率R和各层厚度d）存储在data中，便于后续分析或优化。

6. 循环模拟 ：

   • 循环执行上述过程50000次，每次生成不同的薄膜结构并计算其光学特性。